指南2026年9月28日

AOI 的 Gauge R&R 與 Cpk:證明您的檢測具備能力

Gauge R&R 顯示 AOI 本身帶來多少變異;Cpk 顯示它所量測的製程是否維持在規格內。以下說明如何在檢測系統上執行這兩項研究。

DaoAI 產線整合功能,包括 Gage R&R、Cpk 與 MES 匯出

Gauge R&R(也寫作 Gage R&R 或 GR&R)告訴您:AOI 量測值的變異中,有多少來自檢測系統本身及其操作方式,而不是來自電路板。Cpk 則告訴您:AOI 所量測的製程(例如零件置件)是否維持在規格界限內。請先做 Gauge R&R:用能力不足的量具算出來的 Cpk,描述的是量具,而不是您的製程。

Gauge R&R 對 AOI 系統代表什麼?

Gauge R&R 研究把量測變異拆成兩部分。重複性(Repeatability)是同一位作業員在同一台機台上反覆量測同一片板時的離散程度,反映相機、光源、夾板與演算法。

再現性(Reproducibility)是不同評估者(appraiser)之間的差異。手動量具的評估者是拿卡尺的人;在 AOI 上,通常是負責上板與夾板的作業員,或是執行同一份程式的第二台機台。

結果通常以 %GRR 表示,也就是量具變異佔零件公差或總觀測變異的百分比,另外再加上系統能分辨的可區分類別數(ndc)。

AOI 會產出兩類結果,各需要一種研究:

資料來自 AOI 時,Cpk 代表什麼?

Cpk 比較製程的離散與置中程度和規格界限:Cpk = min(USL − 平均值, 平均值 − LSL) ÷ (3 × 標準差)。Cpk 為 1.0,代表較近的界限剛好距平均值三個標準差。

舉例來說,置件偏移規格為 ±75 µm,量測平均值 +10 µm,標準差 15 µm。Cpk = min(65, 85) ÷ 45 = 1.44。

AOI 很適合當作這類資料的來源,因為它本來就量測每片板上的每顆零件。但要分清楚:置件 Cpk 描述的是置件製程,並不能說明 AOI 抓缺件或錫橋的能力;那是屬性研究要回答的問題。

什麼樣的結果才算合格?

以下門檻是電子與汽車供應鏈常用的經驗法則。一律以客戶的品質協議為優先。

指標常見準則通常的解讀
%GRR低於 10%量測系統可接受
%GRR10% 到 30%視特性與改善成本而定,可能可接受
%GRR高於 30%不可接受;先改善量測再使用資料
ndc5 以上系統能把零件分成足夠多的不同組別
Cpk1.33 以上成熟製程常被要求的最低值
Cpk1.67 以上新製程或安全關鍵特性常被要求的值

如何在 AOI 上執行 Gauge R&R 研究?

架構和任何計量型研究相同。在 AOI 上不同的是:什麼算「評估者」,以及開始前必須凍結哪些東西。

步驟做法典型設定
1. 定義特性選定一個量測項目及其規格界限,例如 0402 晶片電阻的 X 偏移每次研究一個特性,界限以 µm 表示
2. 選擇電路板挑選涵蓋正常製程範圍的量產板,包含一些接近界限的板子10 片板
3. 選擇評估者由平常負責上板的作業員擔任,或用數台執行同一程式的機台2 到 3 位評估者
4. 凍結程式鎖定程式版本、門檻值與光源;研究期間不修改程式、不更新模型一個程式版本,並記錄
5. 執行隨機、盲測試驗每位評估者以隨機順序上每一片板,每次都完整下板再重新上板2 到 3 次試驗;總計 40 到 90 筆量測
6. 分析以 ANOVA 法計算重複性、再現性、%GRR 與 ndc%GRR 分別對公差與總變異計算
7. 依結果行動若重複性為主因,檢查機台、治具或板支撐;若再現性為主因,檢查上板作業流程與訓練任何改善後重新執行

屬性研究則要準備一組樣本,包含良品板和已知缺陷的板子,並以顯微鏡複查或 X-ray 等參考方法確認。每個樣本都在 AOI 上跑數次,回報與參考結果的一致性、漏檢率和誤判率。

研究期間應該控制哪些條件?

AI 型 AOI 比規則式機台多了一個變數:模型會改變。在 DaoAI 機台上,回報誤判只會新增一個樣本,不會改變程式。只有具備該權限的人員執行 AI Update 時,程式才會改變,而且這個更新可以復原。

因此,要做乾淨的研究,請記錄程式版本、約定研究完成前不執行任何更新,並對研究所依賴的項目使用鎖定的參數值。權限等級可以限制誰能建立程式、調校與訓練,或只能檢測。

另外,第一次試驗前請讓機台進入穩定運作狀態,全程使用相同的板支撐與夾板方式,並讓板彎維持在機台夾板與對焦能處理的範圍內。

DaoAI 的產線整合功能提供什麼?

Gauge R&R 與 Cpk 屬於 DaoAI 的產線整合功能,是全系列每台機台共用的核心軟體的一部分,內容包括:

內建的 Gauge R&R 與 Cpk 僅涵蓋放置精度:X 偏移 (mm)、Y 偏移 (mm) 與旋轉角度(度)。不包含焊錫、面積、高度、共面度與 OCR 的結果。由於量測完全自動化,無作業員之間的變異,因此該研究回報重複性而非再現性,且不回報相對於總變異的 %GRR 或 ndc。通過/失敗判定的屬性一致性分析並非內建功能:您可以匯出每次檢測判定與作業員的覆判結果,並在如 Minitab 等工具中進行分析。

在現已可供貨的 P5 3D 線上型機台上,零件高度也是實際量測而非推估,使用校正工具時的參考高度精度為 ≤ 6 µm(≈ 0.236 mil)。機台出貨前,DaoAI 工程師會與您的團隊確認量具研究、MES 格式與產線搬送方式。

如何長期維持檢測能力的證明?

Gauge R&R 只是某個時間點的快照。任何可能改變量測的事件發生後都要重做:相機或光源維修、機台搬遷、新治具,或程式有重大修改。

為了客戶稽核,請把證據集中保存:程式版本、電路板序號、作業員、日期、原始資料與匯出的結果。若您在比較不同廠商,請每一家都在同樣的電路板上做同樣的研究;我們的採購前如何評估 AI AOI 系統指南涵蓋了試機的其他部分。

最後,量產時也要留意計數型的表現。誤判率下降,不應伴隨漏檢率上升。DaoAI 的回饋學習是依據作業員回報重新訓練模型來降低誤判,而不是放寬門檻值;這種做法能讓真正的缺陷持續落在模型視為正常的範圍之外。

常見問題

Gauge R&R 和 Gage R&R 是一樣的嗎?

是的。兩種拼法指的是同一種重複性與再現性研究;「gage」常見於美國汽車業的品質文件。

應該先做 Gauge R&R 還是 Cpk?

先做 Gauge R&R。如果量測系統本身貢獻的變異太大,用它的資料算出的任何 Cpk 都不可靠。

置件 Cpk 能證明 AOI 抓得到缺陷嗎?

不能。置件 Cpk 描述的是置件製程。檢出能力要靠屬性一致性研究來證明,並使用已知良品與已知不良狀態的電路板。

AOI 的 Gauge R&R 中,誰算評估者?

通常是負責上板與夾板的作業員,因為上板是影響量測的主要人為因素。有些工廠也會把執行同一程式的兩台機台當作評估者。 DaoAI 的內建研究完全自動化,因此僅回報重複性。

DaoAI 可以直接在機台上執行研究嗎?

是的,適用於放置精度。DaoAI 的軟體會針對 X 偏移、Y 偏移與旋轉角度執行重複性研究,並回報為 %P/T,同時由相同的量測數據計算 Cp 與 Cpk,並支援匯出至 Excel。通過/失敗判定的屬性一致性分析並非內建功能。

帶著您的品質要求,與我們的工程師進行 30 分鐘的討論。預約展示,或把您自己的電路板寄給我們,我們會免費幫您測試。

相關內容

立即訂閱,接收實用資訊

AI 檢測洞察、產品消息與產業分析。每月一次,不打擾。

我們會使用您提供的資料回覆您的洽詢。 請參閱我們的隱私權政策。